Bağışıklık
EMC Testi – Işımayla Yayınım (Emisyon)

Işımayla Yayınım (Radiated Emission) Testleri – EMC Testi Bir cihazın çalışması sırasında bulunduğu ortama radyo frekansı vasıtasıyla yaymış olduğu elektromanyetik kirlilik seviyesini belirlemek maksadıyla “Işınımla Yayınım (Radiated Emission) Deneyi” uygulanmaktadır. Işıma yoluyla emisyon testi işlemlerinde elektrik alan ve manyetik alan değerleri ölçülmektedir. Burada gerçekleştirilen ölçümlerde yöntem olarak elektrik alan antenleri veya halka antenler kullanılmaktadır. Bikonik […]

Devamı..
EMC Testi – Işımayla Bağışıklık (Alınganlık)

Işımayla Bağışıklık (Radiated Immunity) Testleri – EMC Testi Bir cihazın çalışması esnasında bulunduğu ortamda radyo dalgalarına maruz kalması durumunda cihazda meydana gelebilecek performans bozulmalarını tespit etmek amacıyla “Işınımla Bağışıklık (Radiated Immunity) Deneyi” uygulanmaktadır. Burada cihazın anahtarlama veya yıldırım düşmesi gibi durumlarda oluşan geçici gerilim kabarmalarına maruz kalması durumlarında cihazda oluşabilecek performans bozulmalarını tespit etmek maksadıyla […]

Devamı..
EMC Testi – İletkenlikle Yayınım (Emisyon)

İletkenlikle Yayınım (Conducted Emission) Testleri – EMC Testi Bir elektrikli veya elektronik cihazın bağlı olduğu enerji ya da telekomünikasyon şebekesi gibi şebekelere iletim yoluyla yayılan elektromanyetik kirlilik seviyelerini belirlemek maksadıyla “İletimle Yayınım (Conducted Emission) Deneyi” uygulanmaktadır. İletkenlik yoluyla yapılan emisyon test işlemlerinde cihazın yada sistemin akım ve gerilim değerleri ölçülmektedir. Bu parametreler ölçülürken de akım […]

Devamı..
EMC Testi – İletkenlikle Bağışıklık (Alınganlık)

İletkenlikle Bağışıklık (Conducted Immunity) Testleri – EMC Testi Elektromanyetik Uyumluluk Testlerinden İletimle Bağışıklık (Conducted Immunity) Deneyi, bir cihazın çalışması sırasında cihaz kablolarına elektromanyetik enerji kuplajlanması durumunda cihazda meydana ortaya çıkabilecek performans bozulmalarını tespit etmek amacıyla yapılmaktadır. Cihazın elektrik şebekesindeki arızalar veya anahtarlamalar sebebiyle oluşan kısa süre içerisinde tekrarlanan değişimlere maruz kalması durumunda cihazda oluşabilecek performans […]

Devamı..